Microscopios de medición multifunción de campo claro y campo oscuro de dos ejes y alta capacidad

El microscopio de medición de dos ejes de la serie MF-UC ofrece a los operadores observación en campo claro y campo oscuro y un amplio campo de visión. La distancia de trabajo ultralarga del microscopio brinda la capacidad de observar objetos más grandes con detalle para una mayor flexibilidad. El MF-U ofrece métodos de microscopía como polarización y contraste de interferencia diferencial.

• Observación con una imagen erguida clara y sin destellos y un amplio campo de visión.
• Objetivos de alta apertura numérica probados del sistema óptico FS (tipo de distancia de trabajo larga).
• La integración de las funciones del microscopio metalúrgico y de medición proporciona una solución de observación de alta resolución y medición de alta exactitud.
• Unidad de iluminación (reflejada/transmitida) seleccionable entre LED de alta intensidad o foco de halógeno (requerido).
• El diafragma de apertura variable (reflejado/transmitido) permite el ajuste del contraste.
• Variedad de platinas estandarizadas en tamaños de hasta 400 × 200mm.
• Mecanismo de liberación rápida útil para mover la platina rápidamente al medir piezas de trabajo de gran tamaño o cantidad.
• Observación con gran aumento hasta 2 000X.
• Puerto de cámara dedicado para una integración perfecta de la unidad de Visión de Mitutoyo o una cámara con montura C de terceros.
• Torreta motorizada o manual de 4 posiciones disponible.