Cabezal de microscopio para inspección de semiconductores (aplicaciones láser a 355 nm, 532 nm y 1064 nm)

La serie de microscopios de alta potencia FS70L ofrece grandes aumentos con visualización de vídeo y binocular de la imagen en posición vertical. Un mando de ajuste grueso con agarre de goma, una perilla de ajuste de enfoque fino de mayor tamaño y un mecanismo giratorio interno para una mayor distancia de trabajo facilitan el manejo del FS70L4.

• El FS70L4 admite dos intervalos de longitud de onda (532 nm y 266 nm), ampliando el campo del láser y permitiendo el corte láser de películas delgadas utilizadas en semiconductores y sustratos de cristal líquido.
• Las observaciones en campo claro, contraste de interferencia diferencial (DIC) y polarizadas son opcionales en los modelos FS70Z y FS70 (los modelos FS70L y FS70L4 no admiten el método DIC).
• FS70L4 – Cuerpo principal 1X para dos intervalos de longitud de onda: 532/266 nm.

Los oculares, los objetivos y la iluminación se venden por separado.