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Cabezal de microscopio para inspección de semiconductores

La serie FS70 es ideal como unidad de microscopio para una estación de palpadores de semiconductores.

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Características y beneficios

La serie de microscopios de alta potencia FS70 ofrece grandes aumentos con visualización simultánea de vídeo y binocular de la imagen en posición vertical. Un mando de ajuste grueso con agarre de goma, una perilla de ajuste de enfoque fino de mayor tamaño y un mecanismo giratorio interno para una mayor distancia de trabajo facilitan el manejo del FS70.

• Las observaciones en campo claro, contraste de interferencia diferencial (DIC) y polarizadas son opcionales en los modelos FS70Z y FS70 (los modelos FS70L y FS70L4 no admiten el método DIC).
• FS70 – Cuerpo principal (sin láser) con lente de tubo 1X.

 

SERIES 378 Información Técnica
Ajuste de enfoque: Rango de recorrido de 50 mm con ruedas de enfoque concéntricas gruesas (3,8 mm/rev) y finas (0,1 mm/rev) (derecha/izquierda)
Imagen proyectada: Erguido
Distancia entre pupilas: Tipo Siedentopf, rango de ajuste: 2-3" /51-76mm
Número de campo: 24
Objetivo, opcional (para observación): Plan M Apo, Plan M Apo SL, Plan G Apo
Lente de tubo: 1x
Soporte para cámara: Montura C (utilizando el adaptador opcional B)
Function

Los oculares, los objetivos y la iluminación se venden por separado.

Lista de Productos
Order No.: Imagen del producto: Modelo: Ángulo de inclinación: Relación de paso óptico: Peso de carga: Masa:
378-184-1 - FS70 N / A 50/50 32 libras/14,5 kg 13 libras/6,1 kg
378-184-2 - FS70-S N / A 50/50 32 libras/14,5 kg 13 libras/6,1 kg
378-184-3 - FS70-TH 0-20 grados 100/0 o 0/100 30 libras/13,6 kg 15,5 libras/7,1 kg
378-184-4 - FS70-THS 0-20 grados 100/0 o 0/100 30 libras/13,6 kg 15,5 libras/7,1 kg