La serie FS70 es ideal como unidad de microscopio para una estación de palpadores de semiconductores.
Cabezal de microscopio con zoom 1-2X para inspección de semiconductores
La serie de microscopios de alta potencia FS70 ofrece grandes aumentos con visualización simultánea de vídeo y binocular de la imagen en posición vertical. Un mando de ajuste grueso con agarre de goma, una perilla de ajuste de enfoque fino de mayor tamaño y un mecanismo giratorio interno para una mayor distancia de trabajo facilitan el manejo del FS70.
• Las observaciones en campo claro, contraste de interferencia diferencial (DIC) y polarizadas son opcionales en los modelos FS70Z y FS70 (los modelos FS70L y FS70L4 no admiten el método DIC).
• FS70Z – Cuerpo principal (sin láser) con selector de aumento de 1X a 2X.
| Imagen proyectada: | Erguido |
|---|---|
| Distancia entre pupilas: | Tipo Siedentopf, rango de ajuste: 2-3" /51-76mm |
| Número de campo: | 24 |
| Objetivo, opcional (para observación): | Plan M Apo, Plan M Apo SL, Plan G Apo |
| Lente de tubo: | 1x-2x |
| Soporte para cámara: | Montura C (utilizando el adaptador opcional B) |
Los oculares, los objetivos y la iluminación se venden por separado.
| Order No.: | Imagen del producto: | Modelo: | Ángulo de inclinación: | Relación de paso óptico: | Peso de carga: | Masa: |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 378-185-1 | - | FS70Z | N / A | 50/50 | 31 libras/14,1 kg | 14,5 libras/6,6 kg |
| 378-185-2 | - | FS70Z-S | N / A | 50/50 | 31 libras/14,1 kg | 14,5 libras/6,6 kg |
| 378-185-3 | - | FS70Z-TH | 0-20 grados | 100/0 o 0/100 | 29 libras/13,2 kg | 16,5 libras/7,5 kg |
| 378-185-4 | - | FS70Z-THS | 0-20 grados | 100/0 o 0/100 | 29 libras/13,2 kg | 16,5 libras/7,5 kg |
