Los cabezales de microscopio de Mitutoyo serie FS70 para inspección de semiconductores funcionan como unidades de microscopio compactas óptimas para estaciones de prueba de semiconductores. Con aumentos de hasta 8 000x y distancias de trabajo de hasta 34 mm, nuestros cabezales de microscopio son ideales para aplicaciones de inspección y control de calidad.
Inspección ergonómica de alto rendimiento
Nuestra unidad de microscopio de exactitud FS70 es compatible con láseres YAG y sistemas ópticos infrarrojos. Con un diseño de torreta interna y objetivos de larga distancia de trabajo, nuestras unidades de microscopio compactas ofrecen grandes aumentos para una amplia gama de aplicaciones de inspección de semiconductores.
Unidades ergonómicas de alta potencia para la observación de semiconductores
Compatible con sistemas ópticos infrarrojos.
Disponible para una amplia gama de observaciones.
Product Series
Unidad ergonómica de microscopio de inspección de semiconductores de alta potencia
Unidad ergonómica de microscopio de inspección de semiconductores de alta potencia
Unidad ergonómica de microscopio de inspección de semiconductores de alta potencia
Unidad ergonómica de microscopio de inspección de semiconductores de alta potencia